Home
BLIJF OP DE HOOGTE
Ontvang onze nieuwsbrief en digitale magazine
Uw adres wordt nooit aan derden doorgegeven.
Lees onze privacyverklaring.

     

BEDRIJFSPAGINA

Login Laatste update: 13-04-2017
JEOL (Europe) B.V.
TEL: +31 252 62 35 00
FAX: +31 252 62 35 01
Nederland
Lireweg 4
NL-2153 PH   Nieuw-vennep
TEL: +32 2 720 05 60
België en Luxemburg
Planet II, Leuvensesteenweg 542
B-1930   Zaventem
Contact
Dhr. Bram van der Meer
Sales Executive MS&NMR
Dhr. Arnold Kruize
Sales Executive Electron Optics
Dhr. Stefan Kuypers
Sales Director
Merken
JEOL, Nanalysis,
Lees meer
Merken
JEOL -
Nanalysis -
Expertises
Analytische Instrumenten - Massaspectrometrie (MS) - Massaspectrometrie - single quad
Analytische Instrumenten - Massaspectrometrie (MS) - Massaspectrometrie - time of flight (tof)
Analytische Instrumenten - Gaschromatografie (GC) - Gaschromatografie (GC) GCxGC
Analytische Instrumenten - Gaschromatografie (GC) - Gaschromatografie (GC) GC - MS
Analytische Instrumenten - Nucleaire Magnetische Resonantie (NMR)
Lees meer
Expertises
Analytische Instrumenten - Massaspectrometrie (MS) - Massaspectrometrie - single quad
Analytische Instrumenten - Massaspectrometrie (MS) - Massaspectrometrie - time of flight (tof)
Analytische Instrumenten - Gaschromatografie (GC) - Gaschromatografie (GC) GCxGC
Analytische Instrumenten - Gaschromatografie (GC) - Gaschromatografie (GC) GC - MS
Analytische Instrumenten - Nucleaire Magnetische Resonantie (NMR)
Analytische Instrumenten - Röntgenfluorescentie-spectroscopie (XRF) - Röntgenfluorescentie-spectroscopie (XRF)
Optische Instrumenten - Elektronenmicroscopie - Scanning elektronen microscopie (SEM)
Optische Instrumenten - Elektronenmicroscopie - Transmissie elektronen microscopie (TEM)
Gebruiksartikelen, disposables - Reagentia, consumables - Gebruiksartikelen (chemie)

Productnieuws

Nieuw en compact: de JEOL JSM-IT200 SEM Gebruiksgemak, hoge resolutie en analysesnelheid in scanning elektronenmicroscoop
Nieuw en compact: de JEOL JSM-IT200 SEM
Gebruiksgemak, hoge resolutie en analysesnelheid in scanning elektronenmicroscoop JEOL brengt gebruiksgemak, hoge resolutie en analysesnelheid samen in een nieuwe scanning elektronenmicroscoop. De nieuwe compacte Jeol jsm-IT200 is in staat om zeer snel en eenvoudig SEM analyses uit te voeren dankzij nieuwe features. - “Zeromag” koppelt een camerafoto rechtstreeks aan het SEM-beeld om snel de juiste locatie te bereiken. - Autofuncties zorgen er vervolgens voor dat de beeldafregeling volledig automatisch gaat. - Volledig geïntegreerde EDS maakt “Live EDS Analysis” mogelijk, zodat simultaan met beeldvorming de chemische samenstelling van het preparaat wordt aangegeven. - Vervolgens kan in “Smile View™ Lab” zeer snel een rapport gegenereerd worden. Flexibiliteit is ander kenmerk van dit nieuwe instrument, dat geen koelwater nodig heeft, weinig ruimte inneemt en snel te installeren is.
11-09-2018  |  245x  | 
JSM-IT300HR: bedieningsvriendelijke HR-SEM nieuwste ‘In Touch’ scanning elektronenmicroscoop
JSM-IT300HR: bedieningsvriendelijke HR-SEM
nieuwste ‘In Touch’ scanning elektronenmicroscoop De JSM-IT300HR is de nieuwste ‘In Touch’ scanning elektronenmicroscoop (SEM) van Jeol. Jeol’s In Touch SEMs combineren prestaties met optimaal gebruiksgemak dankzij innovatieve technologie en logische software met multi-touch schermbediening. Met de IT300HR kan elke gebruiker snel en gemakkelijk beelden maken en elementanalyses (EDS) uitvoeren van zeer hoge kwaliteit, ook bij hoge vergrotingen. Deze SEM is is inzetbaar voor alle materialen. Hij is uitermate geschikt voor de studie van fragiele en niet-geleidende materialen, zoals polymeren en organische vezels. Dit nieuwe ontwerp SEM is compact en ergonomisch, vereist geen gas of water aansluiting en heeft een gunstige prijs/prestatieverhouding.
07-09-2016  |  2288x  | 
Hogeresolutie massaspecrometrie, realtime gasmetingen Vluchttijdmassaspectrometer InfiTOF met Multi-turn en Perfect focusing-technologieën
Hogeresolutie massaspecrometrie, realtime gasmetingen
Vluchttijdmassaspectrometer InfiTOF met Multi-turn en Perfect focusing-technologieën Jeol introduceert de hogeresolutie vluchttijdmassaspectrometer InfiTOF voor het realtime monitoren van gassen. Dit instrument gebruikt Multi-turn en Perfect focusing-technologieën voor een hoger massaoplossend vermogen. Dit loopt tot 40.000+ bij een hoge compactheid (63x43x55 cm). Deze massaspectrometer meet direct aan geïntroduceerd gas vanaf H tot 1.000 Da. Massa’s worden in hoge resolutie gemeten en het instrument kan via accurate massameting de elementaire samenstelling bepalen. Dit alles bij een hoge stabiliteit in de tijd. Het hoge oplossend vermogen van 40,000 (FWHM) of meer wordt ook in het lage massabereik gehaald. De InfiTof heeft geen enkele moeite om gasbestanddelen als koolmonoxide (27.9949) en een stikstofmolecuul (28.0062) uit elkaar te houden. Met dit toestel is het ook mogelijk om een proton te meten (1.0078 Da), een fragment-ion van het waterstofmolecuul, evenals het hele waterstofmolecuul (2.0157 Da).
07-09-2016  |  2424x  | 
MAXUS MEDIA
LABinsights.net LABinsights.de LABinsights.nl
Ontvang onze nieuwsbrief
Nieuwsbrief archief
Volg ons
Linked
MAGAZINE
Abonneren
SERVICE EN CONTACT flag